Z przyjemnością informujemy, że prof. dr hab. inż. Robert Hanus (Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych, WEIi) znalazł się w prestiżowym rankingu World’s TOP 2% Scientists, przygotowywanym przez Uniwersytet Stanforda we współpracy z wydawnictwem Elsevier i SciTech Strategies.
Podstawą zestawienia jest wskaźnik C-Score obliczany na podstawie sześciu parametrów bibliometrycznych, które pokazują różne aspekty wpływu naukowca: od ogólnej liczby cytowań po cytowania prac jednoautorskich lub publikacji, w których dany badacz występuje jako pierwszy autor.
To wyróżnienie jest potwierdzeniem wybitnych osiągnięć badawczych prof. Roberta Hanusa, który przez cały okres swojej kariery wnosi znaczący wkład w rozwój metrologii i diagnostyki.
Gratulujemy i cieszymy się, że reprezentuje nasz wydział na tak wysokim, międzynarodowym poziomie.
Pełne zestawienia są dostępne na stronie top2percentscientists.com